植物冠層分析儀在農(nóng)業(yè)、園藝和林業(yè)的栽培、育種、植物種群比較和發(fā)展的研究和教學中，廣泛用于測量和分析作物、果樹和森林的冠層光。它可以測量陽光直射的透射比、天空散射光的透射比、冠層的消光系數(shù)、葉面積指數(shù)和葉片的平均傾角。

　　植物冠層分析儀的原理

　　采用冠層孔隙度與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。根據(jù)光通過介質(zhì)減弱的比爾定律，在給植物冠層定義一系列假設(shè)的條件下，通過半理論半經(jīng)驗公式測量冠層孔隙度，計算冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用通過分析樹冠下半球的圖像來測量樹冠孔隙度的方法。

　　使用植物冠層分析儀的好處

　　1.座艙蓋結(jié)構(gòu)的無損測量

　　2.可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射

　　3.您隨身攜帶的筆記本電腦可以幫助您正確選擇樣品，并立即決定圖像的選擇

　　4.當對不同方向的樹冠進行區(qū)域性分析時，地物景觀和不合理的樹冠部分(如缺少植物、并排問題等。)可以隨意屏蔽。選擇不同天空角的起始角和終止角，可以避免不滿足冠層結(jié)構(gòu)計算參數(shù)的冠層孔隙條件